XRD物相分析检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，XRD物相分析检测测试，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

XRD在无机合成中物相分析的应用包括定性分析和定量分析两个方面。定性相分析的目的是判定物质中的物相组成，就是确定物质中所包含的结晶物质以何种结晶状态存在。XRD衍射线的位置取决于晶胞的形状和大小，也取决于各晶面间距，XRD物相分析检测分析，而衍射线的相对强度则取决于晶胞内原子的种类、数目及排列方式。不同晶体物质都有不同的结构，所以具有不同的衍射花样。当物质中包含多种的晶体物质时，它们的衍射花样互不干扰。从XRD中得到各自晶体的衍射花样，我们就能来确定物质中的晶体。每种晶体物质都具有特定的晶体结构和点阵参数，不同物相的晶体有不同的X射线衍射图样，也就是不同的衍射线束方向和衍射强度。在鉴定物质时，主要利用Hanawalt数字索引，将得到的谱图与标准PDF卡片对比，如对镍进行X射线衍射得到图1所示衍射图谱，将其与标准PDF卡片对比，发现其与PDF卡片65－2865数据相符，因此证明其为单质因此证明其为单质Ni.将磷钨酸进行X射线粉末衍射，得到图2所示衍射图谱，再与标准PDF卡片对照，发现其与PDF卡片50-0304相符，证明其为H3PW12O40·6H20.

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XRD测试能够给出什么物理信息

常规XRD测试给出的是晶体样品物相信息，比如测定晶体二氧化硅粉末时，可以得到该样品的X射线衍射图谱。衍射谱是由样品在X射线照射下产生的，随着角度的变化，逐渐把晶体每个晶面显现出来，形成对应的衍射峰，多个衍射峰形成一张特定衍射谱。某一种物相有对应的衍射谱，山西XRD物相分析检测，若已知衍射谱，也可以反推物相。

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5——定性分析方法

(1) 图谱直接对比法：直接比较待测样品和已知物相的谱图，XRD物相分析检测服务，该法可直观简单的对物相进行鉴定，但相互比较的谱图应在相同的实验条件下获取，该法比较适合于常见相及可推测相的分析

(2)数据对比法：将实测数据(2θ、d、I/I1)与标准衍射数据比较，可对物相进行鉴定

(3)计算机自动检索鉴定法：建立标准物相衍射数据的数据库(PDF卡片)，将样品的实测数据输入计算机，由计算机按相应的程序进行检索，但这种方法还在不断地完善，主要的分析软件：Jade/X"Pert HighScore/ Search Match。

6——xrd定量分析方法

每种物相的衍射线强度随其相含量的增加而提高，由强度值的计算可确定物相的含量。定量分析可用来确定混合物中某一化合物的含量。如：XRD图谱的其他常见用途——晶面择优取向。

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