XRD物相分析检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
任何物质均由原子、分子或离子所组成。晶体内部所含原子、分子或离子具有严格的有规则的周期性排列和三维结构而区别于非晶物质。晶胞是晶体的基本单元。晶体的周期性结构使晶体能对电子流、中子流、X射线等产生衍射效应，形成电子流衍射法、中子流衍射法和X射线衍射( X－ray diffraction 简称 XRD)法，其中X射线衍射法是重要的，使用这些衍射方法能获得有关晶体结 构可靠而的数据。1912年德国物理学家劳厄(Laue) 发现X射线通过晶体时能产生衍射现象，即X射线可以被晶体衍射，从而导致了X射线衍射技术的诞生，成为研究晶体内部结构的重要技术手段之一。布拉格父子（Bragg W H和Bragg W L）在劳厄实验的基础上，借助X射线成功地测出了金刚石的晶体结构，陕西XRD物相分析检测，并提出了一个比较直观的X射线衍射方程式即“布拉格公式”，为终建立现代晶体学打下了坚实的基础。
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xrd原理
XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。
XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
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而对于部分粉末和固体样品，由于存在比较大的周期(比如某晶面d值大于17.6埃，对应2theta小于5度)的微观结构，这时就需要选择小角X射线衍射的模式，通常起始角度可以从零点几度开始，XRD物相分析检测平台，不同仪器配置这个起始角会有所区别。很多同学在准备做X射线衍射测试的时候，拿着样品不知道该怎么选择仪器，以及选择了仪器不知道选择什么模式对样品进行测试，今天和大家聊聊XRD测试仪器选择相关的一些问题。
粉末和块状样品
对常规的粉末样品和块状样品一般做常规的XRD测试即可，需要注意的是，在测试的时候需要根据自己的样品情况选择合适的2theta角度范围，通常根据样品种类，XRD物相分析检测分析，测试范围无机物10-70，金属30-90，有机物5-65。
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