单晶XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

多相物质定性分析

测XRD谱，得d值及相对强度后查索引，得卡片号码后查到卡片，在±1%误差范围内若解全部数据符合，则可判断该物质就是卡片所载物相，其晶体结构及有关性能也由卡片而知。这是单一物相定性分析。

多相混合物质的XRD谱是各物相XRD谱的迭加，单晶XRD检测平台，某一相的谱线位置和强度不因其它物相的存在而改变，青海单晶XRD检测，除非两相间物质吸收系数差异较大会互相影响到衍射强度。固熔体的XRD谱则以主晶相的XRD为主。

已知物相组分的多相混合物，单晶XRD检测哪家好，或者先尝试假设各物相组分，它们的XRD谱解析相对要容易得多。分别查出这些单一物相的已知标准衍射数据，d值和强度，将它们综合到一起，就可以得到核实其有无。如钢铁中的δ相（马氏体或铁素体）γ相（奥氏体）和碳化物多相。

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为了能够测量不同的材料和取向，X射线管和检测器可以使用相应的圆圈来移动，这也允许常规衍射测量。

因此，Omega扫描测量可以与摇摆曲线扫描相结合，用于评估晶体质量。而且初级光束准直器配备有Ge切割晶体准直器，这两种模式都可以快速便捷地交换使用。  

这种类型的衍射仪还可以配备一个X-Y平台，用于在转台上进行3Dmapping绘图。它可以应用于整体晶体取向确定以及摇摆曲线mapping测量。

另外，针对碳化硅SiC、镓GaAs等晶圆生产线，单晶XRD检测价格，可搭配堆叠装置，一次性同时定位12块铸锭，大幅度提高晶圆生产效率和减小晶圆生产批次误差。

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XRD在材料、化学、生物、地质、方面具有广泛运用。它主要应用为 物相鉴定、织构分析、应力测试 。下面我们将以实例分析来看看怎么处理分析XRD实验数据。

1——结晶与取向判断

(1)由照片判断  

(2)由衍射图判断

如： “宽隆”峰表明无定型;“尖锐”峰表明存在结晶或近晶。

2——同种结晶化合物的两种不同晶型

3——插层材料表征-衍射角及晶面间距的变化

4——衍射谱线

一张衍射图谱上衍射线的位置(方向)仅和原子排列周期性有关;衍射线的强度则取决于原子种类、含量、相对位置等性质;衍射线的位置和强度就完整地反映了晶体结构的二个特征，从而成为辨别物相的依据。

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