大功率XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

用 XRD 图来精修出分子结构研究分子的性质，辽宁大功率XRD检测， 收集 XRD 时应注意些什么?

强度要高，中等强度的衍射峰强度要达到 5000 计数以上；衍射峰的分辨要尽可能的好；扫描范围要大，大 d 值的峰不能缺失。衍射峰的强度和很多因素有关，比如样品的衍射能力，性质，还有仪器功率，测试方法，检测器的灵敏度等等。

 做 XRD 时步长一般为 0.02 度，但是如果要做 Rietveld 分析，出了强度要求 500 以上，步长有没有什么要求啊？

一个半峰宽内有 3-5个点就可以了，步长一般为 FWHM 的 0.2-0.3 就可以了。强度要求在之间。

3如果用普通的xrd仪器如 brucker D8或者 philips 等测试粉末的 xrd，扫描速度需要多慢才适合用 gsas 等方法作rietveld分析，需要加内标吗？

扫描速度的快慢是根据你的数据强度要求来确定的，如果要做结构精修，中等强度的衍射峰的强度应该在 5000 以上，至于内标是不需要的。

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常用的XRD分析软件有4种：

1.dfwin?有人认为是原始的了。它是在衍射图谱标定以后，按照d值检索。一般可以有限定元素、按照三强线、结合法等方法。所检索出的卡片多时候不对。一张复杂的衍射谱有时候一天也搞不定。

2.search?match?可以实现和原始实验数据的直接对接，可以自动或手动标定衍射峰的位置，对于一般的图都能很好的。而且有几个小工具使用很方便。如放大功能、十字定位线、坐标指示按钮、网格线条等。重要的是它有自动检索功能。可以帮你很方便的检索出你要找的物相。也可以进行各种限定以缩小检索范围。如果你对于你的材料较为熟悉的话，对于一张含有4，5相的图谱，检索也就3分钟。效率很高。而且它还有自动生成实验报告的功能！

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影响K值的因素有什么？

除了定义上的因素外，还有这么一些问题是要考虑的：

首先，晶粒大小的影响。比如，大功率XRD检测机构，你在做的是纳米晶粒样品，也套用这个K值，误差会很大。我曾试过一个物相不同晶粒的K值，结果相差有多大，简直无法相象，真的差了10倍！这个10倍是要直接用于公式里的分母的。结果会怎么样呢？

其次，化学成份的影响。很多物相都不能算做纯物相，比如某种合金的固溶体，某种蒙脱石。虽然，他们的晶体结构大体上还是没有变化，但它的K值却变了。据分析，不同成分的固溶体，比如Al中可以溶解一些其它元素如Zn，Mg等，不同固溶度下的Al固溶体的K值肯定是不同的。对于合成样品，化学成分的微小差别也会影响K值。不同地域的蒙脱石，其K值可以相差很大。

再次，大功率XRD检测多少钱，颗粒度。这里不是说晶粒度，而是说粉末的粒度。也是影响因素之一。

影响K值的还有晶体的结构，原子的占位与掺杂。

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