XRD物相分析检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
我现在做介孔材料。介孔(孔径 2-50nm)在材料中成有序排列，象晶格一样的排列在材料中，孔壁、材料为非晶相。为什么 XRD 能粗测孔与孔的间距？我了解到的是，孔成有序排列，XRD物相分析检测报告，所以在小角度会有衍射峰，XRD物相分析检测分析，(001)面的峰值和孔径有关。但我不知道为什么?
跟长周期有关：大的孔需要大的周期，或者说是"孔面"间距，类似于"晶面间距"。"孔"意味晶体中该区域没有原子填充，没有填充原子就无衍射峰。而孔洞的边界是原子紧密排列的，原子密度相对较高，对应产生较强的衍射，强度较大。
大孔孔径大，空间重复周期大（即长周期），对应的晶面距大，产生的衍射在小角区。所说的（001）有强线对应的材料的晶体 C 轴较长，XRD物相分析检测服务，如果第是（100）则 A 轴较长。
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这些方法主要包括两方面： 一种是需要标样的称为“有标法”。也就是说，除了要测的样品，需要往样品中加入某种纯物质。而这些个纯物质往往是不易求得的。
比如，某人在合成一种新物质，总是发现合成物中有各种各样的杂质，他希望计算一下不同条件下这种新物质的含量。实验方法要求他提供这种新物质的纯样品。而实际情况是，他如果得到了这种新物质的纯样品也就是他合成成功的那一天，他还需要你来算个什么含量呢？
再举个例子，一位包工头发现，建的房子老是倒了，地基不行。因为地基里有含量很高的蒙脱土一下雨就膨胀，房子就会倒。他需要了解这种土里的蒙脱土含量到底有多少，他便可以通过改性的办法来解决问题。虽然，要得到蒙脱土的纯物质对某些人来说(一般实验室还是很难的)还是可以的，通过离心等一些方法可以得到。但是，得到的纯物质也许与原样品中的该物质结构发生某些变化。这样虽然得到了纯物质，但是，由于结构的变化，使C也变了。计算出来的结果还是不准。而且，当实验员告诉包工头，虽然我们可以做，但是一则计算结果可能不是很准确。二则经费需要很多时，包工头只能摇摇头，摆摆手，说声BbyeBye了。
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细针状微晶粉末样品做 XRD 重复性很差。（制作粉末衍射样品片）怎么可以避免择优取向？
择优取向是很难避免的，只能尽力减少他的影响。
首先，你要讲样品磨得尽量细（但要适度，要注意样品的晶体结构不要因研磨过度而受到损坏）；
不要在光滑的玻璃板上大力压紧（压样时可以在玻璃板上衬一张粗糙的纸张），样品成形尽可能松一些；
制样过程中也可以掺一些玻璃粉，或加一些胶钝化一下样品的棱角。
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