半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，河北XRD物相分析，兼顾重大技术应用的基础研究，XRD物相分析多少钱，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

做 XRD 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？

XRD（X 射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)有力的方法。XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。

　　因此，通过样品的 X 射线衍射图与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD 还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。

　　目前 XRD 主要适用于无机物，对于有机物应用较少。

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对于X射线衍射，当光程差等于波长的整数倍时，晶面的散射线将加强，此时满足的条件为2dsinθ=nλ，其中，d为晶面间距，θ为入射线，反射线与反射晶面之间的夹角，λ为波长，n为反射级数，布拉格方程是X射线在晶体产生衍射时的必要条件而非充分条件。有些情况下晶体虽然满足布拉格方程，但不一定出现衍射，即所谓系统消光。布拉格方程所反映的是衍射线方向与晶体结构之间的关系。对于某一特定晶体而言，只有满足布拉格方程的入射线角度才能够产生干涉增强，才会表现出衍射条纹。这是XRD谱图的根本意义。备注：对于不同晶系，晶面间距d与晶胞参数（a， b， c， α， β， γ）之间存在确定的对应关系，通过XRD谱图知道θ和hkl之后，可以通过布拉格方程等推算出晶胞参数。 

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X 射线衍射是通过 X 射线在样品中的衍射现象，利用衍射峰的位置和强度，XRD物相分析选哪家，来定性分析材料的结晶类型、晶体参数、晶体缺陷、不同结构相的含量等。对于应用于储能、催化等领域的材料而言，其晶体结构往往会随着反应的进行发生演变，而非原位XRD只能检测到某―状态下材料晶体结构的转变，很难准确得到关于材料在整个转变过程中的相关信息，尤其是关于电极材料相变和结构演变的研究。为重要的是，整个过程存在因电极材料暴露于空气中，而破坏掉真实状态的风险，非原位XRD测试往往不能很好地还原电池材料在充放电过程中的真实状况。原位XRD作为一种XRD的衍生测试手段，可以很好的解决非原位XRD测试过程中的诸多问题。

原位XRD技术早就已运用到材料科学研究中，主要用于对物质的组成和结构进行鉴定和研究:

(1）原位XRD在材料反应过程中得到实时的结构变化信息，可以深入的认识材料在充放电过程中发生的反应，对如何进一步改进材料具有重要的指导意义;

(2）原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息，XRD物相分析服务，由于原位XRD技术在测试的整个过程中是针对同一材料的相同位置进行测试，因而通过该测试手段所得到的信息(晶胞参数、峰强度等参数)具有相对可比性，可以得到一系列实时的结构变化信息。

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