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XRD应对游离氧化硅的解决方案
认识游离二氧化硅
游离二氧化硅是指没有与金属或金属氧化物结合而呈游离状态的二氧化硅。职业卫生领域所称的“游离二氧化硅”是专指结晶型二氧化硅。《作业场所中空气中粉 尘测定方法》(GB5748-85)中明确说明“游离二氧化硅指结晶型的二氧化硅”。
游离二氧化硅按晶体结构分为结晶型(crystalline)、隐晶型(crypto crystalline)和无定型(amorphous)三种。结晶二氧化硅的硅氧四面体排列规则,如石英、鳞石英,存在于石英石、花岗岩或夹杂于其他矿物内的硅石;隐晶型二氧化硅的硅氧四面体排列不规则,主要有玛瑙、火石和石英玻璃;无定型二氧化硅主要存在于硅藻土、硅胶和蛋白石、石英熔炼产生的二氧化硅蒸气和在空气中凝结的气溶胶中。
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能谱仪,是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。EDS的分析结果里面会有原子比(atomic%)和元素比(也就是质量比,weight%)的数据,这里要提醒大家注意一点,因为EDS分析并没有那么,所以尽管分析报告的结果会有两位小数,但只取一位小数就够了。
X射线光电子能谱(XPS )是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。原则上可以测定元素周期表上除氢、氦以外的所有元素。
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其主要功能及应用有三方面:,XRD晶粒尺寸哪家好,可提供物质表面几个原子层的元素定性、定量信息和化学状态信息;第二,XRD晶粒尺寸价格,可对非均相覆盖层进行深度分布分析,了解元素随深度分布的情况;第三,可对元素及其化学态进行成像,给出不同化学态的不同元素在表面的分布图像等。
XRD (X射线物相定性分析):用X射线衍射数据对样品中存在的物相(而不是化学成分中的元素构成)进行鉴别。测定结晶情况,晶相,晶体结构及成键状态等等;可以确定各种晶态组分的结构和含量。
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