XRD物相分析单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，XRD物相分析联系方式，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，广东XRD物相分析，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，XRD物相分析费用多少，以及行业应用技术开发。

便携式XRD分析仪

　　XRD产品实践

　　映SHINE便携式X射线衍射仪是苏州浪声科学仪器有限公司结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，XRD物相分析哪里有，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD物相分析

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物相定性分析中追求数据吻合程度时，

（1）d值比I/I1值更重要，更优先。因为d测试精度高，重现性好；而强度受纯度（影响分辨率）、结晶度（影响峰形）样品细微度（同Q值时吸收不同），辐射源波长（同d值，角因子不同）、样品制备方法（有无择优取向等）、测试方法（照相法或衍射仪法）等因素影响，不易固定。

（2）低角度衍射线比高角度线重要。对不同晶体而言低角度线不易重迭，而高角度线易重迭或被干扰。

（3）强线比弱线重要。尤其要重视强度较大的大d值线。

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薄膜测试xrd怎么计算x射线入射的深度

谢勒公式D=kλ/FWHM cosθ计算

D：晶粒尺寸（不叫离子尺寸的）

k：0.89

λ：XRD测试的x射线的波长，一般分kα1和kα2，具体用那种需要问测试老师。

FWHM:半高宽

θ：衍射角

具体方法：选定强的衍射峰，测量其衍射角和半高宽（可用jade读取），然后带入公式计算即可。

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广东XRD物相分析-半导体XRD薄膜测试由广东省科学院半导体研究所提供。广东XRD物相分析-半导体XRD薄膜测试是广东省科学院半导体研究所今年新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系，索取联系人：王小姐。