XRD掠入射（GIXRD）单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

XRD衍射仪简介

XRD衍射仪是一种用于化学工程、化学、中医学与中药学、生物学领域的分析仪器，于2018年3月1日启用。

　　技术指标

　　X射线发生器，功率3KW，XRD掠入射（GIXRD）价格，i管电压60HV，电流80mA，垂直型测角仪，XRD掠入射（GIXRD），扫描范围:-6°~163°(2θ)， -180°~180°(θ)，扫描速度:0.1~50o/min(2θ)，0.05~25°/min(θ)。配置微量样品池，3Q认证。

　　主要功能

　　晶型结构研究。

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X射线物相定量分析

基本原理和分析

在X射线物相定性分析基础上的定量分析是根据样品中某一物相的衍射线积分强度正变化于其含量。不能严格正比例的原因是样品也产生吸收。对经过吸收校正后的的衍射线强度进行计算可确定物相的含量。这种物相定量分析是其它方法，XRD掠入射（GIXRD）机构，如元素分析、成分组分分析等所不能替代的。

结晶度的XRD测定

高分子结晶体的X射线衍射研究

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物相定性分析中追求数据吻合程度时，

（1）d值比I/I1值更重要，更优先。因为d测试精度高，重现性好；而强度受纯度（影响分辨率）、结晶度（影响峰形）样品细微度（同Q值时吸收不同），辐射源波长（同d值，角因子不同）、样品制备方法（有无择优取向等）、测试方法（照相法或衍射仪法）等因素影响，不易固定。

（2）低角度衍射线比高角度线重要。对不同晶体而言低角度线不易重迭，而高角度线易重迭或被干扰。

（3）强线比弱线重要。尤其要重视强度较大的大d值线。

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