XRD小角度检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

(1)每一个物相的衍射强度，这倒不难，我们可以从衍射图上量出来。

(2)每一个物相的K值，这个K从何而来呢？ 这里的K值是这样一个定义：用某种纯物质X与α Al2O3按重量比1:1混合均匀，测量两者的衍射强度之比。

这里的“衍射强度”被定义为峰的高度(不是面积)。 这个比值称为X物相的K值。这个K值只与物相结构有关，因此可以被写入PDF卡片。现在的电子版PDF卡片上有这样一个数据：I/Ic(RIR)=YYY。因此，我们也称为RIR值，其中I是卡片所列物相的强线的峰高，XRD小角度检测实验室，而Ic是刚玉(α-Al2O3，Corundum)强线的峰高。

我们国家已经给出了这个方法的标准，就是这么定义的。 这样一来，定量分析就变得如此简单！扫描一遍样品的衍射谱，从图上量出每个物相的衍射峰的峰高，再从PDF卡片上查出每个相的RIR值，就可以轻松地计算出全部物相的含量来。 真的，事实上，就是这么简单。你自己就可以做。再也不必求别人！。 这就是所谓的“绝热法”。绝热的意思是不再需要标样，因为样品中每一个物相的K值都已经知道，不需要与样品外的世界打交道。

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这些方法主要包括两方面： 一种是需要标样的称为“有标法”。也就是说，除了要测的样品，需要往样品中加入某种纯物质。而这些个纯物质往往是不易求得的。

比如，某人在合成一种新物质，总是发现合成物中有各种各样的杂质，他希望计算一下不同条件下这种新物质的含量。实验方法要求他提供这种新物质的纯样品。而实际情况是，他如果得到了这种新物质的纯样品也就是他合成成功的那一天，他还需要你来算个什么含量呢？

再举个例子，一位包工头发现，建的房子老是倒了，地基不行。因为地基里有含量很高的蒙脱土一下雨就膨胀，贵州XRD小角度检测，房子就会倒。他需要了解这种土里的蒙脱土含量到底有多少，XRD小角度检测多少钱，他便可以通过改性的办法来解决问题。虽然，要得到蒙脱土的纯物质对某些人来说(一般实验室还是很难的)还是可以的，通过离心等一些方法可以得到。但是，得到的纯物质也许与原样品中的该物质结构发生某些变化。这样虽然得到了纯物质，但是，由于结构的变化，使C也变了。计算出来的结果还是不准。而且，当实验员告诉包工头，虽然我们可以做，但是一则计算结果可能不是很准确。二则经费需要很多时，包工头只能摇摇头，摆摆手，说声BbyeBye了。

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Fullprof精修中的 scale 的初值一般是怎么确定的?

比例因子 scale 是指理论计算数据与实验数据之间的比值，一般随便给就可以，不会影响精 修的。只要你的初始模型正确，几轮就可以修到比较合理的值。

 做Rietveld 时发现：如果事先对原始数据进行平滑等一系列的预处理会比较容易使R 因子 减小，这样的做法是否不妥？

做 Rietveld 时，是不需要对数据进行平滑处理的，因为平滑处理肯定会使数据在一定程度上失真的。不过，在不影响峰形的前提下进行轻度的平滑处理也是可以的。

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